Mekanik Ölçüm - Optik, Ses ve Titreşim: Ulusal ölçüm teknolojisinde uzmanlaşma kapasitesinin teyit edilmesi

3 Ekim 2025'te Hanoi'de, 8. Ulusal Ölçüm Bilimi ve Teknolojisi Konferansı kapsamında, Vietnam Metroloji Enstitüsü, araştırma sonuçlarını paylaşmak, çözümleri ve ulusal standart sisteminin geliştirilmesine yönelik yönelimleri tartışmak amacıyla "Mekanik - Optik, Akustik ve Titreşim Ölçümü" konulu bir bilimsel çalıştay düzenledi. Çalıştaya ölçüm alanında çok sayıda bilim insanı ve uzman katıldı.

Çalıştayın Genel Görünümü.

Vietnam Metroloji Enstitüsü'nden Bay Pham Thanh Ha, tork referans standardı oluşturulmasına ilişkin araştırmayı sunarken, bunun ulusal standart sisteminde önemli bir faktör olduğunu ve özellikle bilim ve teknolojinin (KH&CN) hızla geliştiği bir dönemde ölçüm cihazlarının ve tork miktarlarıyla ilgili cihazların doğruluğunu garanti altına aldığını söyledi. Vietnam Metroloji Enstitüsü, dünyadaki gelişmiş ülkelerin tork referans makineleriyle 20 N·m ila 2200 N·m ölçüm aralığına, U = 5.10⁻⁵ ölçüm belirsizliğine sahip bir tork referans standardını başarıyla oluşturdu. Bu sonuç, tasarım ve üretim teknolojisinde ustalaşma yeteneğini teyit ederek, birçok farklı ölçüm aralığı için benzer cihazlar üretme olasılığını ortaya koyuyor. Enstitü aynı zamanda, tork alanında ulusal bir ölçüm standardı haline gelen bir standart sistemi oluşturma yolunda ilerleyerek CMC olarak tanınmak için prosedürler de uyguluyor.

Vietnam Metroloji Enstitüsü'nden Bay Pham Thanh Ha, Çalıştay'da yaptığı konuşmada şunları söyledi:

Çalıştayda ayrıca, Vietnam Metroloji Enstitüsü'nden Bay Vu Khanh Phan, interferometri ve görüntü işleme tekniklerini bir araya getirerek MIA cetvellerini kalibre etmek için yeni bir yöntem tanıttı. Bay Vu Khanh Phan, MIA cetvellerinin jeodezi alanında iki yüzey arasındaki yükseklik farkını (0,02 + 0,02L) mm'ye kadar doğrulukla belirlemek için yaygın olarak kullanıldığını belirtti. Deneysel sonuçlar, kamera ve görüntü işleme tekniklerinin entegre edilmesiyle elde edilen yöntemin, geleneksel yönteme eşdeğer güvenilirlik sağladığını, doğruluğu artırdığını, ölçüm belirsizliğini azalttığını, MIA cetvellerinin kalibrasyonuna olanak sağladığını, kalibrasyon sürecinin otomatikleştirilmesine yardımcı olduğunu, ölçüm kararlılığını iyileştirdiğini ve zamandan tasarruf sağladığını göstermektedir.

Vietnam Metroloji Enstitüsü'nden Sayın Vu Khanh Phan, Çalıştay'da konuşma yaptı.

Çalıştay kapsamında ayrıca katılımcılar şu konularda görüş alışverişinde bulundular: Güneş simülasyon sistemlerinin kalibrasyon ve sınıflandırma yöntemleri; Flycam tespitinde sıkıştırılmış örnekleme ile birleştirilmiş çok alanlı haritalama optik sistemi; KO12 polikristalin optik seramik malzemelerin kırılma indisinin belirlenmesinde kızılötesi spektrometrenin uygulanması...

Çalıştay, Vietnam Metroloji Enstitüsünün araştırma ve uygulama kapasitesini teyit etmekle kalmadı, aynı zamanda modern bir ulusal ölçüm standartları sisteminin geliştirilmesine, uluslararası entegrasyona, bilim ve teknolojinin ve temel ekonomik ve teknik sektörlerin gelişimine etkili bir şekilde hizmet etmesine de katkıda bulundu.

Bilim ve Teknoloji İletişim Merkezi

Kaynak: https://mst.gov.vn/do-luong-co-optical-hoc-am-thanh-va-rung-dong-khang-dinh-nang-luc-lam-chu-cong-nghe-do-luong-quoc-gia-197251003162426423.htm