חברת Keysight Technologies הכריזה על שיפור משמעותי במקלט ההפרעות האלקטרומגנטיות (EMI) PXE שלה, ומוסיפה יכולות מדידה רציפה בזמן אמת עם רוחב פס של עד 1 גיגה-הרץ לפונקציונליות סריקת תחום הזמן (TDS) רחבת הפס שלה.
מקלט ה-PXE החדש מאפשר למהנדסים למדוד תדרים מ-30 מגה-הרץ עד 1 גיגה-הרץ בשלב מדידה יחיד במקום שלושת השלבים הקודמים. תכונה מתקדמת זו מספקת רגישות גבוהה, מאפשרת אבחון מהיר יותר ומקצרת משמעותית את תהליכי האימות וההסמכה של תאימות אלקטרומגנטית (EMC).
ככל שמחזורי הפיתוח ונפחי המוצרים החדשים לשוק ממשיכים לעלות, בדיקות הסמכת EMC הופכות במהירות לצוואר בקבוק עבור יצרנים. האתגר של צוותי הנדסה לזהות ולפתור אנומליות EMI הנובעות מעיצובים אלקטרוניים מורכבים הולך וגובר. מקלט ה- PXE EMI החדש של Keysight מטפל ישירות באתגרים אלה על ידי שיפור משמעותי של רוחב הפס של הבדיקה, צמצום זמן ניפוי השגיאות ואופטימיזציה של ניצול תא ה- EMC.
מקלט PXE EMI מאפשר בדיקה ופתרון בעיות מהירות יותר: פס TDS של 1 גיגה-הרץ ומעבד זרם עצמאי (N9048BSPU) מאיצים את הבדיקה ומפחיתים את זמן פתרון הבעיות משעות לדקות.
תוצאות מדידה אמינות בזמן אמת: רוחב פס סריקה בזמן אמת של 1 גיגה-הרץ מבטיח מדידה רציפה ואינו מפספס אותות מעבר או EMI בעוצמה נמוכה.
תאימות לתקנות: תאימות מלאה לתקן CISPR 16-1-1:2019, בהתאם לתקנים הגלובליים העדכניים ביותר בנושא EMC.
מקלט ה-EMI PXE של Keysight קובע סטנדרט חדש בביצועים מדויקים ופרודוקטיביות, ומאפשר לצוותי הנדסה ומעבדות להתמודד בביטחון ובמהירות עם אתגרי EMC מאתגרים.
מקלט ה-EMI PXE יוצג בתערוכת Techno-Frontier 2025, שתתקיים בין ה-23 ל-25 ביולי בטוקיו, בביתן 3-GG04 של תאגיד TOYO.
מקור: https://doanhnghiepvn.vn/kinh-te/kinh-doanh/tang-toc-do-do-kiem-voi-thiet-bi-moi/20250722065124171






תגובה (0)