افزایش سرعت آزمایش با تجهیزات جدید

شرکت Keysight Technologies از ارتقای قابل توجه گیرنده تداخل الکترومغناطیسی (EMI) PXE خود خبر داده است و قابلیت‌های اندازه‌گیری پیوسته بلادرنگ با پهنای باند تا ۱ گیگاهرتز را به قابلیت اسکن دامنه زمانی (TDS) پهن‌باند خود اضافه کرده است.

گیرنده جدید PXE به مهندسان این امکان را می‌دهد که فرکانس‌های 30 مگاهرتز تا 1 گیگاهرتز را به جای سه مرحله قبلی، در یک مرحله اندازه‌گیری واحد اندازه‌گیری کنند. این ویژگی پیشرفته، حساسیت بالایی را فراهم می‌کند، تشخیص سریع‌تر را تسهیل می‌کند و فرآیندهای اعتبارسنجی و صدور گواهینامه سازگاری الکترومغناطیسی (EMC) را به طور قابل توجهی کوتاه می‌کند.

تجهیزات Keysight Technologies امکان آزمایش و عیب‌یابی سریع‌تر را فراهم می‌کند.

با افزایش چرخه‌های توسعه و حجم محصولات جدید به بازار، آزمایش گواهینامه EMC به سرعت به یک گلوگاه برای تولیدکنندگان تبدیل می‌شود. چالش تیم‌های مهندسی برای شناسایی و حل ناهنجاری‌های EMI ناشی از طراحی‌های الکترونیکی پیچیده در حال افزایش است. گیرنده جدید PXE EMI شرکت Keysight با بهبود قابل توجه پهنای باند آزمایش، کاهش زمان اشکال‌زدایی و بهینه‌سازی استفاده از محفظه EMC، مستقیماً به این چالش‌ها می‌پردازد.

گیرنده PXE EMI امکان آزمایش و عیب‌یابی سریع‌تر را فراهم می‌کند: باند TDS 1 گیگاهرتز و پردازنده جریانی مستقل (N9048BSPU) سرعت آزمایش را افزایش داده و زمان عیب‌یابی را از ساعت‌ها به دقیقه کاهش می‌دهد.

نتایج اندازه‌گیری قابل اعتماد و بلادرنگ: پهنای باند اسکن بلادرنگ ۱ گیگاهرتز، اندازه‌گیری مداوم را تضمین می‌کند و سیگنال‌های گذرا یا EMI با شدت کم را از دست نمی‌دهد.

انطباق با مقررات: کاملاً مطابق با CISPR 16-1-1:2019، مطابق با آخرین استانداردهای جهانی در زمینه EMC.

گیرنده PXE EMI شرکت Keysight استاندارد جدیدی را در عملکرد دقیق و بهره‌وری تعیین می‌کند و به تیم‌های مهندسی و آزمایشگاه‌ها این امکان را می‌دهد تا با اطمینان و سرعت به چالش‌های چالش‌برانگیز EMC رسیدگی کنند.

گیرنده EMI مدل PXE در نمایشگاه Techno-Frontier 2025 که از 23 تا 25 جولای در توکیو و در غرفه 3-GG04 شرکت TOYO برگزار می‌شود، به نمایش گذاشته خواهد شد.

تان وان

منبع: https://doanhnghiepvn.vn/kinh-te/kinh-doanh/tang-toc-do-do-kiem-voi-thiet-bi-moi/20250722065124171