شرکت Keysight Technologies به تازگی از بهبود قابل توجهی در گیرنده تداخل الکترومغناطیسی (EMI) PXE خود خبر داده است که قابلیتهای اندازهگیری پیوسته در لحظه با پهنای باند تا ۱ گیگاهرتز را برای عملکرد اسکن دامنه زمانی (TDS) پهنباند اضافه میکند.
گیرنده جدید PXE به تیمهای مهندسی اجازه میدهد تا باند فرکانسی از 30 مگاهرتز تا 1 گیگاهرتز را به جای سه مرحله مانند نسخه قبلی، در یک مرحله اندازهگیری کنند. این ویژگی پیشرفته حساسیت بالایی را فراهم میکند، تشخیص سریعتر را تسهیل میکند و فرآیندهای اعتبارسنجی و صدور گواهینامه انطباق الکترومغناطیسی (EMC) را به طور قابل توجهی کوتاه میکند.
با افزایش چرخههای توسعه و حجم محصولات جدید وارد شده به بازار، آزمایش گواهینامه EMC به سرعت در حال تبدیل شدن به یک گلوگاه برای تولیدکنندگان است. چالش مهندسان در شناسایی و حل ناهنجاریهای EMI ناشی از طراحیهای الکترونیکی پیچیده رو به افزایش است. گیرنده جدید PXE EMI شرکت Keysight با بهبود قابل توجه پهنای باند آزمایش، به حداقل رساندن زمان اشکالزدایی و بهینهسازی استفاده از محفظه EMC، مستقیماً به این چالشها میپردازد.
گیرنده PXE EMI اندازهگیری و عیبیابی سریعتر را امکانپذیر میکند: باند TDS 1 گیگاهرتز و پردازنده جریانی مستقل (N9048BSPU) سرعت اندازهگیری را افزایش داده و زمان عیبیابی را از ساعتها به چند دقیقه کاهش میدهد.
نتایج اندازهگیری قابل اعتماد و بلادرنگ: باند فرکانسی اسکن بلادرنگ ۱ گیگاهرتز، اندازهگیری پیوسته را تضمین میکند و سیگنالهای انتقالی یا سیگنالهای EMI با شدت کم را از دست نمیدهد.
انطباق: کاملاً مطابق با CISPR 16-1-1:2019، مطابق با آخرین استانداردهای جهانی EMC.
گیرنده PXE EMI شرکت Keysight استاندارد جدیدی را برای عملکرد دقیق و بهرهوری تعیین میکند و به تیمهای مهندسی و آزمایشگاهها این امکان را میدهد تا با اطمینان و سرعت به مسائل چالشبرانگیز EMC رسیدگی کنند.
گیرنده PXE EMI در نمایشگاه Techno-Frontier 2025 که از 23 تا 25 جولای در توکیو برگزار میشود، در غرفه 3-GG04 شرکت TOYO به نمایش گذاشته خواهد شد.
منبع: https://doanhnghiepvn.vn/kinh-te/kinh-doanh/tang-toc-do-do-kiem-voi-thiet-bi-moi/20250722065124171






نظر (0)