첫 번째 대학은 벤치마크 점수를 변환하는 계획을 발표했습니다.

하노이 과학기술대학교는 2025년부터 재능선발(XTTN), 사고력평가시험 점수(TSA), 고등학교 졸업시험 점수 등 3가지 입학전형 방법을 사용할 예정입니다.

하노이 과학기술대학교에서는 위의 세 가지 방법 간의 동등한 벤치마크 점수를 찾기 위해 백분위수 동등화 방법을 적용합니다. 또한 대학은 지난 3년간의 입학 데이터를 통계하고 분석하여 다양한 입학 조합, 영역별 XTTN 점수 분포, TSA 시험 점수 분포, 원래 조합인 A00(수학-물리-화학)을 포함한 고등학교 졸업 시험 점수 분포를 분석하여 상관관계 백분위수 범위를 결정하는 기초로 사용합니다. 이를 바탕으로 대학은 입학 방법 간의 상관관계 표를 구축했습니다.

하노이 과학기술대학교는 벤치마크 점수를 -0으로 전환할 계획을 발표했습니다. — 하노이 과학기술대학 입학 방법 간 상관관계 백분위수 표.

따라서 고등학교 졸업시험 점수의 상위 %는 최저 점수에서 최고 점수(30점)까지의 점수를 받은 지원자의 원래 입학 조합인 A00의 총점을 기준으로 계산됩니다.

XTTN 1.2 및 1.3 점수의 상위 %는 최저 점수에서 최고 점수(100점)까지 XTTN 방식에 따라 점수를 받은 총 지원자 수를 기준으로 계산됩니다.

TSA 상위 % 점수는 최저 점수부터 최고 점수(100점)까지 TSA 점수를 받은 후보자 총 수를 기준으로 계산됩니다.

하노이 과학기술대학교에서는 매년 성적을 발표합니다. A00 원래 조합이 아닌 고등학교 졸업 시험 점수 조합의 경우, 하노이 과학기술대학교는 고등학교 졸업 시험 점수와 함께 교육훈련부가 발표한 해당 점수의 차이를 기준으로 계산합니다.

특정 백분위수 점수 범위 값이 포함된 상관관계 표에서 다양한 입학 방법 간의 변환 함수 보간이 수행됩니다.

따라서 이 입학 방식의 백분위수 범위 [a, b)의 벤치마크 점수 x는 다음 공식에 따라 다른 입학 방식에 해당하는 백분위수 범위 [c, d)의 벤치마크 점수 y로 보간됩니다.

2024년 데이터에 대한 동등 벤치마크 점수 계산과 관련하여, 하노이 과학기술대학교는 2024년 등록 데이터와 학생 학습 성과를 기반으로 벤치마크 점수 상관관계 표를 다음과 같이 정했습니다.

예를 들어, 2024년 TSA 점수에 따른 마이크로전자공학 및 나노기술의 벤치마크는 71.68점(x = 71.68)입니다. 따라서 이 벤치마크 점수는 3번째 백분위수(약 3)에 속하며 GPA 값은 [68.55 - 74.77]입니다. 당시 고등학교 졸업고사 성적의 등가 벤치마크는 해당 백분위수(3 정도)에 속하게 되며, 고등학교 졸업고사 성적 값은 [27.14~28.04]가 됩니다.

여기에서 해당 변환 계수를 결정합니다: a = 68.55; b = 74.77; c = 27.14; d = 28.04. DGTD의 표준점수 x = 71.68에서 고등학교 졸업고사 점수 y에 해당하는 표준점수를 계산하기 위해 보간공식을 적용하면 다음과 같이 계산됩니다.