첫 번째 대학은 벤치마크 점수를 변환하는 계획을 발표했습니다.

하노이 과학기술대학교는 2025년부터 재능선발(XTTN), 사고력평가시험 점수(TSA), 고등학교 졸업시험 점수 등 3가지 입학전형 방법을 사용할 예정입니다.

하노이 과학기술대학교는 위 세 가지 방법 간의 동등 벤치마크 점수를 찾기 위해 백분위수 동등화법을 적용합니다. 또한, 최근 3년간의 입학 데이터, 다양한 전형 조합, 과목별 XTTN 점수 분포, TSA 시험 점수 분포, 그리고 A00(수학-물리-화학)을 포함한 고등학교 졸업 시험 점수 분포를 분석하여 상대 백분위수 범위를 산출합니다. 이를 바탕으로 입학 전형 간 상관관계 백분위수표를 구축했습니다.

하노이 과학기술대학교는 벤치마크 점수를 -0으로 전환할 계획을 발표했습니다. — 하노이 과학기술대학 입학 방법 간 상관관계 백분위수 표.

따라서 고등학교 졸업시험 점수의 상위 %는 최저 점수에서 최고 점수(30점)까지의 점수를 받은 지원자의 원래 입학 조합인 A00의 총점을 기준으로 계산됩니다.

XTTN 1.2 및 1.3 점수의 상위 %는 최저 점수에서 최고 점수(100점)까지 XTTN 방식에 따라 점수를 받은 총 지원자 수를 기준으로 계산됩니다.

TSA 상위 % 점수는 최저 점수부터 최고 점수(100점)까지 TSA 점수를 받은 후보자 총 수를 기준으로 계산됩니다.

하노이 과학기술대학교는 매년 표준점수를 발표합니다. A00점 이외의 고등학교 졸업 시험 점수 조합에 대해서는, 하노이 과학기술대학교는 교육훈련부가 발표한 해당 점수 차이와 고등학교 졸업 시험 점수를 함께 고려하여 계산합니다.

특정 백분위수 점수 범위 값이 포함된 상관관계 표에서 다양한 입학 방법 간의 변환 함수 보간이 수행됩니다.

따라서 이 입학 방식의 백분위수 범위 [a, b)의 벤치마크 점수 x는 다음 공식에 따라 다른 입학 방식에 해당하는 백분위수 범위 [c, d)의 벤치마크 점수 y로 보간됩니다.

2024년 데이터에 대한 동등 벤치마크 점수 계산과 관련하여, 하노이 과학기술대학교는 2024년 등록 데이터와 학생 학습 성과를 기반으로 벤치마크 점수 상관관계 표를 다음과 같이 정했습니다.

예를 들어, 2024년 TSA 채점 방식에 따른 마이크로전자공학 및 나노기술 과목의 기준 점수는 71.68점(x = 71.68)입니다. 따라서 이 기준 점수는 3백분위수(약 3점)에 해당하며, GPA는 [68.55 - 74.77]입니다. 당시 고등학교 졸업 시험 점수에 대한 기준 점수는 해당 백분위수(약 3점)에 해당하며, 고등학교 졸업 시험 점수는 [27.14 - 28.04]가 될 것입니다.

여기에서 해당 변환 계수는 다음과 같이 결정됩니다. a = 68.55; b = 74.77; c = 27.14; d = 28.04. DGTD 표준점수 x = 71.68에서 고등학교 졸업고사 점수 y에 해당하는 표준점을 계산하기 위해 보간 공식을 적용하면 다음과 같이 계산됩니다.