উচ্চ প্রযুক্তির প্রতারণামূলক ডিভাইসগুলি কীভাবে সনাক্ত করা যায়

গতকাল (১ জুন) সকালে সাইগন বিশ্ববিদ্যালয়ে অনুষ্ঠিত শিক্ষা ও প্রশিক্ষণ মন্ত্রণালয়ের ২০২৩ সালের উচ্চ বিদ্যালয় স্নাতক পরীক্ষার পরিদর্শন ও পরীক্ষা সংক্রান্ত প্রশিক্ষণ সম্মেলনে এটি একটি গুরুত্বপূর্ণ বিষয়বস্তু উল্লেখ করা হয়েছে। সম্মেলনে দা নাং এবং আরও দক্ষিণের ৬৫টি উচ্চ শিক্ষা প্রতিষ্ঠান এবং ৩২টি শিক্ষা ও প্রশিক্ষণ বিভাগের প্রতিনিধিরা অংশগ্রহণ করেছিলেন।

... স্মার্ট রিং থেকে প্রতারণামূলক ডিভাইস

সম্মেলনে বক্তব্য রাখতে গিয়ে, জননিরাপত্তা মন্ত্রণালয়ের কারিগরি বিষয়ক বিভাগের উপ-প্রধান, সিনিয়র লেফটেন্যান্ট কর্নেল নগুয়েন ট্রং থাই বলেন যে পরীক্ষায় জালিয়াতি ক্রমশ জটিল ও জটিল হয়ে উঠছে, তাই পরীক্ষায় নকল সনাক্তকরণ, সনাক্তকরণ এবং পরিচালনা করা অত্যন্ত গুরুত্বপূর্ণ।

লেফটেন্যান্ট কর্নেল থাইয়ের মতে, তথ্য প্রযুক্তি সরঞ্জাম ব্যবহার করে পরীক্ষায় জালিয়াতি কেবল প্রার্থীদের ক্ষেত্রেই ঘটে না, বরং শিক্ষক, অভিভাবক এবং পরীক্ষার গুরুত্বপূর্ণ পর্যায়ে অংশগ্রহণকারীদের ক্ষেত্রেও ঘটে। পরীক্ষার্থীরা ইচ্ছাকৃতভাবে পরীক্ষার তথ্য বাইরে প্রেরণের জন্য নিষিদ্ধ ডিভাইস পরীক্ষার কক্ষে নিয়ে আসে, তবে পরীক্ষার আয়োজনে অংশগ্রহণকারী শিক্ষকরা ইচ্ছাকৃতভাবে স্কোর সম্পাদনা করার মতো নেতিবাচক কাজ করে। অভিভাবকদের জন্য, পরীক্ষার প্রশ্ন, পরীক্ষার প্রস্তুতি, পরিবহন এবং প্রশ্নপত্র বিনিময় সম্পর্কে তথ্য সংগ্রহের জন্য কম্পিউটারে ইচ্ছাকৃত এবং অবৈধভাবে হস্তক্ষেপ করার জন্য প্রযুক্তি সরঞ্জাম ব্যবহার করা...

লেফটেন্যান্ট কর্নেল থাইয়ের মতে, প্রতারণার জন্য অনেক পদ্ধতি রয়েছে। উল্লেখযোগ্যভাবে, পরীক্ষার কক্ষে অত্যাধুনিক, অতি-ছোট প্রযুক্তিগত সরঞ্জামের ব্যবহার এবং বাইরে থেকে কল করা এবং উত্তর শোনার জন্য একটি ফোন সিম কার্ডের সাথে সংযোগ স্থাপনের ক্ষমতা। এই ডিভাইসগুলি এটিএম কার্ড, কলম, চশমা, স্মার্ট ঘড়ির মতো অনেক সাধারণ জিনিসের আড়ালে লুকিয়ে রাখার জন্য ডিজাইন করা হয়েছে...

১ জুন সকালে সম্মেলনে প্রতিনিধিরা মতামত বিনিময় করেন।

মিঃ থাই আরও বলেন যে উচ্চ-প্রযুক্তিগত ডিভাইসগুলির সাধারণ বৈশিষ্ট্য হল এগুলি বাইরে থেকে সাধারণ বস্তুর মতো দেখায় এবং এগুলিকে কম্প্যাক্ট এবং সাধারণ বস্তুর সাথে সংযুক্ত করার জন্য ডিজাইন করা হয়েছে। পরীক্ষার্থীরা প্রায়শই পরীক্ষার কক্ষে হেডফোন এবং ট্রান্সসিভার নিয়ে আসে। ভুট্টার দানা বা মটরশুঁটির আকারের অতি ছোট হেডফোনগুলি কানে ঢোকানো হয় এবং ডিভাইসের সাথে একটি ওয়্যারলেস সংযোগ ব্যবহার করে। হেডফোনগুলি এত ছোট যে পরীক্ষক এগুলি খুব কমই সনাক্ত করতে পারেন।

"বর্তমানে, স্মার্টফোনগুলিতে NFC-এর কাছাকাছি-ক্ষেত্র যোগাযোগ রয়েছে। এটি একটি দ্বি-মুখী ওয়্যারলেস ডেটা ট্রান্সমিশন প্রযুক্তি, যা ওয়াইফাই, 3G, 4G তরঙ্গ থেকে স্বাধীন। ডিভাইসটি পরীক্ষার কক্ষের ভেতরে এবং বাইরে রেডিও তরঙ্গ, ছবি, শব্দ, বার্তা, ডেটা ফাইল প্রেরণ এবং গ্রহণের নীতিতে কাজ করে। তথ্য পরীক্ষার সমাধানকারীতে স্থানান্তরিত হয় এবং প্রার্থীর কাছে ফেরত পাঠানো হয়... এটিই প্রার্থীদের ব্যক্তিগত জিনিসপত্র পরীক্ষার কক্ষ থেকে কমপক্ষে 25 মিটার দূরে রাখার একটি মৌলিক কারণ," মিঃ থাই বিশ্লেষণ করেছেন।

পরীক্ষা পরিদর্শকদের উচ্চ প্রযুক্তির প্রতারণামূলক যন্ত্রগুলি কল্পনা করতে সাহায্য করার জন্য, কারিগরি বিষয়ক বিভাগের উপ-প্রধান স্মার্ট চশমার উদাহরণ দিয়েছেন। "যখন একজন প্রার্থী এই চশমা পরেন, তখন বাইরের লোকেরা এগুলিকে এমনভাবে দেখেন যেন তিনি সাধারণ চশমা পরে আছেন। কিন্তু বিপরীত দিকে, প্রার্থী তার সামনে একটি চিত্র পর্দা দেখতে পান। প্রার্থী এটি দেখতে পারেন কিন্তু অন্যরা তা দেখতে পান না," মিঃ থাই বলেন, স্মার্ট ব্রেসলেট এবং আংটি এবং শরীরের সাথে গোপনে সংযুক্ত বোতামগুলির মাধ্যমে ছদ্মবেশে থাকা কিছু উচ্চ প্রযুক্তির প্রতারণামূলক যন্ত্রের দিকেও ইঙ্গিত করেন। লেখার কলমে একটি সিম কার্ডও সংযুক্ত থাকতে পারে এবং এটি মোবাইল ফোনের মতো মৌলিক বৈশিষ্ট্যগুলির সাথে কাজ করে...

"এই যানবাহনগুলি বাজারে কয়েকশ বা কয়েক মিলিয়ন থেকে শুরু করে কয়েক কোটি ডং পর্যন্ত অনেক দামে বিক্রি হয়। যদি কোনও টিএস ইচ্ছাকৃতভাবে প্রতারণা করে, তবে তারা সেগুলি কিনতে অর্থ ব্যয় করতে ইচ্ছুক," মিঃ থাই বলেন।

কিছু উচ্চ প্রযুক্তির প্রতারণামূলক ডিভাইস স্মার্ট ব্রেসলেট এবং আংটির ছদ্মবেশে থাকে।

প্রতারণার লক্ষণ

প্রস্তাবিত অনেক সমাধানের মধ্যে, লেফটেন্যান্ট কর্নেল নগুয়েন ট্রং থাই উচ্চ বিদ্যালয়ের স্নাতক পরীক্ষার সম্ভাব্য পদ্ধতির উপর জোর দিয়েছিলেন।

মিঃ থাইয়ের মতে, উচ্চ প্রযুক্তির ডিভাইসগুলি সনাক্ত এবং প্রতিরোধ করার জন্য, পরীক্ষা পরিদর্শকদের ডিভাইসগুলির বৈশিষ্ট্য, মানসিক অভিব্যক্তি পর্যবেক্ষণ করা এবং পরীক্ষার্থীর অস্বাভাবিক লক্ষণগুলি সনাক্ত করা প্রয়োজন।

প্রথমত, পরীক্ষার্থী পরীক্ষার কক্ষে যেসব জিনিসপত্র নিয়ে আসে তার বৈশিষ্ট্য পর্যবেক্ষণ করা এবং পরীক্ষা করা; বিশেষ করে জিনিসপত্রের পৃষ্ঠতল যাতে কোনও অস্বাভাবিকতা না থাকে এবং নিশ্চিত করা যায় যে জিনিসপত্রে স্পিকার বা হেডফোন নেই। উদাহরণস্বরূপ, একটি হ্যান্ডহেল্ড ক্যালকুলেটরের সাহায্যে, কীবোর্ড এবং স্ক্রিন ছাড়াও, সামনে কোনও ছিদ্র থাকা উচিত নয়, যত ছোটই হোক না কেন। একটি ইলেকট্রনিক ঘড়ি পরীক্ষা করার সময়, আপনাকে স্ক্রিন এবং সিগন্যাল বারের দিকে নজর দিতে হবে। চশমার ক্ষেত্রে, ফ্রেমের আকৃতি বিবেচনা করুন এবং পর্যবেক্ষণ করুন...

এছাড়াও, মিঃ থাই বলেন যে প্রার্থীদের অস্বাভাবিক মানসিক প্রকাশগুলি পর্যবেক্ষণ করা প্রয়োজন। "যারা নকল করে তারা সর্বদা উদ্বেগ, নার্ভাসনেস এবং অস্বাভাবিকতার মতো অস্বাভাবিক লক্ষণগুলি লুকিয়ে রাখার এবং দেখানোর চেষ্টা করে। পরীক্ষার প্রশ্ন পাওয়ার পর, প্রার্থীরা প্রশ্নগুলি বিড়বিড় করে বলতে পারে, পরীক্ষা দেওয়ার সময় মনোযোগ না দিয়ে, বাইরে থেকে প্রত্যাশা দেখাতে পারে...", মিঃ থাই একটি কাল্পনিক পরিস্থিতি উপস্থাপন করেছেন।

শরীরে গোপনে লাগানো বোতামের ছদ্মবেশে উচ্চ প্রযুক্তির প্রতারণামূলক ডিভাইস

কারিগরি বিভাগের উপ-প্রধান জোর দিয়ে বলেন: "প্রতারণামূলক যন্ত্রের ব্যবহার সনাক্তকরণে পরীক্ষার তত্ত্বাবধায়করা গুরুত্বপূর্ণ ভূমিকা পালন করেন। প্রশিক্ষণের পাশাপাশি, উচ্চ দায়িত্ববোধ সম্পন্ন অভিজ্ঞ পরীক্ষা তত্ত্বাবধায়ক নির্বাচন করা খুবই গুরুত্বপূর্ণ।"

সম্মেলনে বক্তব্য রাখতে গিয়ে, মান ব্যবস্থাপনা বিভাগের (শিক্ষা ও প্রশিক্ষণ মন্ত্রণালয়) পরিচালক মিঃ হুইন ভ্যান চুওং পরীক্ষায় উচ্চ প্রযুক্তির ব্যবহার কার্যকরভাবে রোধে জননিরাপত্তা মন্ত্রণালয় এবং স্থানীয়দের মধ্যে সমন্বয়ের উপর জোর দেন। মিঃ চুওং বলেন যে, মন্ত্রণালয় এ বছরের উচ্চ বিদ্যালয় স্নাতক পরীক্ষার বিধিমালার কিছু বিষয়বস্তু পূর্ববর্তীগুলির তুলনায় সংশোধন করেছে, যা তথ্য প্রযুক্তি এবং যোগাযোগ সরঞ্জাম এবং সফ্টওয়্যার ব্যবহারের সাথে সম্পর্কিত। উদাহরণস্বরূপ, এই বছরের বিধিমালায় যোগ করা একটি নতুন বিষয় স্পষ্টভাবে বলা হয়েছে যে পরীক্ষা পরিষদের পরীক্ষার তত্ত্বাবধান, গ্রেডিং এবং পর্যালোচনা ক্ষেত্রে তথ্য প্রেরণ এবং অভ্যর্থনা ডিভাইস ব্যবহার করা উচিত নয়...

উচ্চ প্রযুক্তির প্রতারণামূলক ডিভাইসগুলি এমনভাবে তৈরি করা হয় যাতে এটিএম কার্ড, কলম, চশমা, স্মার্ট ঘড়ি ইত্যাদির মতো যতটা সম্ভব সাধারণ জিনিসপত্র লুকিয়ে রাখা যায়।

মিঃ হুইন ভ্যান চুওং বিশেষ করে উচ্চ বিদ্যালয়ের স্নাতক পরীক্ষা আয়োজনে স্থানীয়দের ভূমিকার উপর জোর দিয়েছিলেন, বিশেষ করে বাস্তবায়নের নির্দেশনা দিয়েছিলেন এবং এলাকায় পরীক্ষার সম্পূর্ণ দায়িত্ব গ্রহণ করেছিলেন। স্থানীয়রা সক্রিয়ভাবে পরিকল্পনা করে এবং পরীক্ষা আয়োজনের জন্য সম্পূর্ণরূপে পরিস্থিতি প্রস্তুত করে।

পরীক্ষা বোর্ডের চেয়ারম্যানের পক্ষ থেকে পরীক্ষার্থীদের পরিদর্শন এবং তত্ত্বাবধান

১ জুন সকালে সম্মেলনে বক্তৃতা দিতে গিয়ে, শিক্ষা ও প্রশিক্ষণ উপমন্ত্রী ফাম নগক থুওং বিশেষ করে ২০২৩ সালের উচ্চ বিদ্যালয় স্নাতক পরীক্ষা আয়োজনে পরিদর্শন ও পরীক্ষার কাজের ভূমিকার উপর জোর দেন।

মিঃ থুওং-এর মতে, পরিদর্শন এবং পরীক্ষার কাজ একটি গুরুত্বপূর্ণ ভূমিকা পালন করে কারণ পরীক্ষার সর্বোচ্চ অগ্রাধিকার হল নিরাপত্তা, গুরুত্ব এবং ন্যায্যতা নিশ্চিত করা। পরিদর্শন এবং পরীক্ষার কাজের দৃষ্টিভঙ্গি মূলত প্রতিরোধ এবং নিয়ন্ত্রণের উপর ভিত্তি করে। প্রতিরোধের জন্য, এই কাজটি সম্পাদনের জন্য পরিকল্পনা, বিষয়বস্তু এবং সময়সূচী সক্রিয়ভাবে তৈরি করা প্রয়োজন। বিশেষ করে, পরিদর্শনই মূল লক্ষ্য, তবে তদারকি নিয়মিত হওয়া উচিত।

পরীক্ষার আয়োজন প্রক্রিয়ার প্রতিটি ধাপ পর্যবেক্ষণ ও নিয়ন্ত্রণ করা প্রয়োজন, প্রস্তুতি থেকে শুরু করে পরিদর্শন, মার্কিং, পর্যালোচনা এবং স্কোরিং পর্যন্ত।

পরিদর্শন ও তত্ত্বাবধান অবশ্যই সমগ্র পরীক্ষা পরিষদের সাথে সম্পন্ন করতে হবে, ছাত্র থেকে শুরু করে পরিষেবা কর্মী এবং এমনকি পরীক্ষা পরিষদের চেয়ারম্যানও। মিঃ থুং বিশ্লেষণ করেছেন: "পরিদর্শন ও তত্ত্বাবধানের বিষয়গুলি কেবল ছাত্র নয়, সহকর্মীও, কেউ কেউ এমনকি পরিদর্শন কর্মীদের ঊর্ধ্বতনও... তাই এই কাজটি খুবই চাপের। অতএব, আমি আশা করি শিক্ষকরা বন্ধুত্বপূর্ণ পদ্ধতি প্রয়োগের দিকে মনোযোগ দেবেন যা পরীক্ষা পরিষদকে খুব বেশি চাপে না ফেলে বরং নীতি ও পদ্ধতি অনুসরণ করা নিশ্চিত করবে।"

শিক্ষা ও প্রশিক্ষণ উপমন্ত্রীর মতে, পরিদর্শন কাজে অংশগ্রহণকারীদের নিয়মকানুন সম্পর্কে দৃঢ় ধারণা থাকা প্রয়োজন। প্রশিক্ষণের বিষয়বস্তুর পাশাপাশি, কোনও ঘটনার ক্ষেত্রে তাদের সক্রিয়ভাবে নিয়মকানুন অধ্যয়ন করতে হবে। "যখন শিক্ষকদের নিয়মকানুন এবং পরিদর্শন কৌশল সম্পর্কে দৃঢ় ধারণা থাকবে, তখন তারা তাদের দায়িত্ব পালনে খুব আত্মবিশ্বাসী হবেন," মিঃ থুং বলেন।

উৎস লিঙ্ক: https://thanhnien.vn/thi-tot-nghiep-thpt-2023-cach-nhan-dien-thiet-bi-gian-lan-cong-nghe-cao-185230601201434412.htm