اندازه‌گیری مکانیکی - اپتیک، صدا و ارتعاش: تأیید ظرفیت تسلط بر فناوری اندازه‌گیری ملی

در تاریخ ۳ اکتبر ۲۰۲۵، در هانوی، در چارچوب هشتمین کنفرانس ملی علوم و فناوری اندازه‌گیری، موسسه مترولوژی ویتنام یک کارگاه علمی با موضوع «اندازه‌گیری مکانیکی - نوری، صوتی و ارتعاشی» برگزار کرد تا نتایج تحقیقات را به اشتراک بگذارد، راه‌حل‌ها و جهت‌گیری‌های توسعه سیستم استاندارد ملی را مورد بحث قرار دهد. این کارگاه با حضور بسیاری از دانشمندان و متخصصان حوزه اندازه‌گیری برگزار شد.

نمای کلی کارگاه.

آقای فام تان ها، از موسسه مترولوژی ویتنام، با ارائه تحقیق در مورد ایجاد استاندارد مرجع گشتاور، گفت که این یک عامل مهم در سیستم استاندارد ملی است و دقت دستگاه‌های اندازه‌گیری و دستگاه‌های مرتبط با مقادیر گشتاور را تضمین می‌کند، به ویژه هنگامی که علم و فناوری (KH&CN) به شدت در حال توسعه هستند. موسسه مترولوژی ویتنام با موفقیت یک استاندارد مرجع گشتاور با محدوده اندازه‌گیری از 20 نیوتن متر تا 2200 نیوتن متر، عدم قطعیت اندازه‌گیری U = 5.10⁻⁵ - با ماشین‌های مرجع گشتاور کشورهای توسعه یافته جهان - ایجاد کرده است. این نتیجه، توانایی تسلط بر فناوری طراحی و تولید را تأیید می‌کند و امکان تولید دستگاه‌های مشابه برای محدوده‌های اندازه‌گیری مختلف را فراهم می‌کند. در عین حال، این موسسه همچنین در حال اجرای رویه‌هایی برای شناخته شدن به عنوان CMC است و به سمت ایجاد یک سیستم استاندارد به یک استاندارد اندازه‌گیری ملی در زمینه گشتاور حرکت می‌کند.

آقای فام تان ها، از موسسه مترولوژی ویتنام، در این کارگاه آموزشی گزارش داد.

همچنین در این کارگاه، آقای وو خان ​​فان، از موسسه مترولوژی ویتنام، روش جدیدی برای کالیبراسیون خط‌کش‌های MIA با استفاده از تداخل‌سنجی همراه با تکنیک‌های پردازش تصویر معرفی کرد. آقای وو خان ​​فان گفت که خط‌کش‌های MIA معمولاً در ژئودزی برای تعیین اختلاف ارتفاع بین دو سطح در حوزه ژئودزی با دقتی تا (0.02 + 0.02L) میلی‌متر استفاده می‌شوند. نتایج تجربی نشان می‌دهد که روش ادغام دوربین‌ها و تکنیک‌های پردازش تصویر، قابلیت اطمینانی معادل روش سنتی را به دست می‌دهد، ضمن اینکه دقت را بهبود می‌بخشد، عدم قطعیت اندازه‌گیری را کاهش می‌دهد، امکان کالیبراسیون خط‌کش‌های MIA را فراهم می‌کند، به خودکارسازی فرآیند کالیبراسیون کمک می‌کند، پایداری اندازه‌گیری را بهبود می‌بخشد و در زمان صرفه‌جویی می‌کند.

آقای وو خان ​​فان، از موسسه مترولوژی ویتنام، در این کارگاه آموزشی گزارش داد.

در چارچوب این کارگاه، شرکت‌کنندگان همچنین در مورد موارد زیر بحث و تبادل نظر کردند: روش‌های کالیبراسیون و طبقه‌بندی سیستم‌های شبیه‌سازی خورشیدی؛ سیستم نوری نقشه‌برداری چند میدانی همراه با نمونه‌برداری فشرده در تشخیص دوربین پروازی؛ کاربرد طیف‌سنج مادون قرمز برای تعیین ضریب شکست مواد سرامیکی نوری پلی کریستالی KO12...

این کارگاه نه تنها ظرفیت تحقیق و کاربرد موسسه مترولوژی ویتنام را تأیید کرد، بلکه به ترویج توسعه یک سیستم استانداردهای اندازه‌گیری ملی مدرن، ادغام بین‌المللی، و خدمت مؤثر به توسعه علم و فناوری و بخش‌های کلیدی اقتصادی و فنی نیز کمک کرد.

مرکز ارتباطات علم و فناوری

منبع: https://mst.gov.vn/do-luong-co-optical-hoc-am-thanh-va-rung-dong-khang-dinh-nang-luc-lam-chu-cong-nghe-do-luong-quoc-gia-197251003162426423.htm